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광학적 산란 특성 측정 장비
Optical Scattering Evaluation Systems
재료의 표면 및 내부 미세 구조에 의해 발생하는 빛의 산란 현상을 정밀하게 측정하고 분석하는 시스템입니다.
JNC Tech는 BSDF (양방향 산란 분포 함수) 측정 시스템, 고니오메트릭 측정 시스템, 헤이즈 측정기 등
세계 최고 수준의 솔루션을 제공합니다.
이 장비들은 HUD 광학 부품, 디스플레이 광학소자, 필름, 코팅, 유리, 플라스틱 소재 등 다양한 분야에서
정확한 광학 특성 분석 및 제품 개발을 지원합니다.
RT-300S
Goniometric BSDF
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Goniometric 방식으로 다양한 입사/반사 측정
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고정밀 연구개발, 특수 샘플 측정 용이
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대형 및 곡면 소재 지원
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Dynamic Range 확장으로 저반사 소재 측정
SDR-300F
Conoscopic BSDF
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Conoscopic 방식의 산란 분포 (BSDF) 측정
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빠르고 반복성이 높은 측정
⇒ 양산 라인 품질관리에 최적
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HUD, 디스플레이 광학소재, 렌즈 분석 최적
JCH-300S
Spectro Haze meter
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투명 및 반투명 소재의 헤이즈, 투과율 측정
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필름, 코팅, 글래스 소재의 품질 평가
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쉽고 빠른 샘플 측정, 높은 반복 측정 정밀도
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ASTM, ISO 국제 기준 충족
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